• Mikroröntgenquelle mit Polykapillaroptik für Punktgrößen unter 40 µm
  • 20 bis 50 mal höhere Empfindlichkeit für schwerere Elemente im Vergleich zur Elektronenanregung ermöglicht das Aufspüren von Spurenelementen
  • Verbesserte analytische Genauigkeit durch Kombination der Ergebnisse, die durch Elektronen- und Röntgenstrahlmessungen erzeugt wurden
  • Komplett integriert in ESPRIT 2, unserer neuen 4-in-1 Software


Someone has to be first.

Zur Produktseite QUANTAX Micro-XRF

Fokussiert auf 40 µm.

Fokussiert aus 400 Metern.

XTrace, unsere Mikroröntgenquelle, erweitert das REM um Mikro-RFA Analysefähigkeiten.