• Fuente de rayos X con óptica policapilar para tamaños de puntos inferiores a 40 μm
  • 20 a 50 veces mejor sensibilidad para elementos pesados, comparado con una excitación con haz de electrones, lo que permite la detección de trazas de elementos
  • Precisión analítica mejorada gracias a la combinación de resultados cuantitativos provenientes tanto de espectros inducidos por haz de electrones como por rayos X
  • Totalmente integrado en ESPRIT 2, nuestro nuevo software 4-en-1


Someone has to be first.

A la página de productos QUANTAX Micro-XRF

Enfocado en 40 µm.

Enfocado a 400 metros.

XTrace, nuestra fuente de rayos X micro-puntual incorpora posibilidades de análisis Micro-XRF al SEM.