• Source de rayons X avec optique polycapillaire pour des dimensions de points inférieures à 40 µm
  • La sensibilité 20 à 50 fois plus grande pour les éléments plus lourds par rapport à une excitation par faisceau d'électrons permet la détection des éléments traces
  • Précision analytique améliorée grâce à la combinaison de résultats quantitatifs fournis par un spectre induit par électrons et par rayons X
  • Entièrement intégré dans ESPRIT 2, notre nouveau logiciel 4-en-1


Someone has to be first.

Aller à la page produit QUANTAX Micro-XRF

Focalisé à 40 µm.

Focalisé à partir de 400 mètres.

XTrace, notre source de rayons X à micro-focalisation ajoute des capacités d'analyse Micro-XRF à la SEM.