• Источник рентгеновского излучения с поликапиллярной оптикой обеспечивает измерительное пятно менее 40 мкм
  • В 20 – 50 раз лучшая по сравнению с возбуждением электронным пучком чувствительность для тяжелых элементов позволяет детектировать следы элементов
  • Улучшенная аналитическая точность путем объединения результатов количественного анализа электронного и рентгеновского спектров
  • Полностью интегрировано в ESPRIT 2, наше новое 4-в-1 программное обеспечение


Someone has to be first.

На QUANTAX Micro-XRF продукт Страница

Фокусирует до 40 мкм.

Фокусирует от 400 метров.

XTrace, наш микрофокусный источник рентгеновского излучения, дополняет РЭМ функциональными возможностями микро-РФА.